Интернет-портал интеллектуальной молодёжи

http://ipim.ru/events/4966.html (версия для печати)

Мероприятия

Семинар "Проведение патентного поиска"

место проведения: Учебный комплекс ЦНТИ "Прогресс"

области знаний:

• информатика и вычислительная техника
• техника и технология

тип мероприятия: семинар

название: Семинар "Проведение патентного поиска"

организаторы мероприятия:

• Центр научно-технической информации "Прогресс"

контингент участников:

• все желающие

окончание регистрации: 02 апреля 2013

начало мероприятия: 03 апреля 2013

оргвзнос: 33 630 руб

проживание: оплачивается участником

контакты:

• г. Санкт-Петербург, Васильевский остров, Средний пр-т, д. 36/40
• тел.: 8 (812) 331-88-88
• e-mail: client@cntiprogress.ru

ссылка: сайт с информацией

дополнительно:
Авторская программа Е.В. Савиковской – патентный поверенный РФ, директор патентно-оценочного агентства, дипломированный оценщик интеллектуальной собственности, разработчик системы управления интеллектуальной собственностью, опытный консультант-практик.

Занятия проводятся в активной форме в компьютерном классе.
По всем темам будут рассмотрены конкретные примеры.

1. Патент как источник информации.

2. Особенности патентной документации. Примеры патентных описаний разных стран.

3. Патентная документация в соответствии с процедурой выдачи патентов в РФ и по процедуре РСТ.

4. Патентная документация в соответствии с процедурой международной регистрации товарных знаков (Мадридское соглашение и Протокол к нему).

5. Стандарты ВОИС по патентной документации.

6. Характеристика патентных классификаторов.
– Международная патентная классификация (МПК).
– Международный классификатор промышленных образцов (МКПО).
– Международная классификация товаров и услуг для товарных знаков (МКТУ).

7. Виды патентного поиска.
– Методика проведения патентного поиска с целью проверки охраноспособности нового технического решения.
– Методика проведения патентного поиска с целью определения технического уровня.
– Методика проведения патентного поиска с целью определения патентной чистоты изделия.

8. Характеристика и проведение поиска в бесплатных патентных базах данных.
– Проведение патентного поиска в базе данных РФ.
– Проведение патентного поиска в базе данных Европейского патентного ведомства.
– Проведение патентного поиска в базе данных ВОИС.
– Проведение патентного поиска в базе данных США.
– Проведение патентного поиска в базе данных Японии.
– Проведение патентного поиска в базе данных Китая.

9. Порядок оформления Отчета о патентных исследованиях в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 "Система разработки и постановки продукции на производство. Патентные исследования".

10. Порядок оформления патентного формуляра.